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                OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀
                OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀

                OLYMPUS奧林巴斯全國授權代理,OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀,用戶可以在OmniScan儀器中進行完整的設置,而無需使用PC機改進的快速校準多組全聚焦方式(TFM)圖像不僅 提高了圖像的分辨率,而且還對缺陷在圖像中的顯示位置進行了幾何校正準的PR配置允許使用雙晶陣列探頭的較大孔徑

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